ESTUDO DO CRESCIMENTO VOLTAMÉTRICO DE ÓXIDOS DE ESTANHO EM SOLUÇÃO TAMPÃO BORATO E FOSFATO, PH 8,7
Espessura
Modelo ôhmico
Voltametria
Óxido de estanho
Borato
Fosfato
Engenharia Metalúrgica
Produção intelectual
Tin
Thickness
Ohmic model
Voltammetry
Abstract
O objetivo do presente trabalho foi estudar o crescimento voltamétrico dos óxidos de
estanho em solução borato e fosfato, pH 8,7, aplicando o modelo ôhmico como
ferramenta para determinar a variação da resistividade iônica do filme com sua densidade
de carga. Os primeiros resultados referentes à aplicação do modelo ôhmico mostraram
que na interface metal/filme o processo de oxidação do estanho em solução borato e
fosfato seguem um processo que pode ser descrito por uma representação de Tafel.
Também foi visto que os ânions presentes nas duas soluções não afetam a cinética da
interface metal/filme, já que, os valores de densidade de corrente de troca apresentaram
valores próximos e da mesma ordem de grandeza (0,60 mA.cm2
, para o borato e
1 mA.cm2
para o fosfato) e iguais valores do coeficiente de transferência de carga. Esse
resultado mostrou que a diferença entre os voltamogramas está correlacionada com as
propriedades dos filmes crescidos nas duas soluções. Diante disso, fez necessário
determinar uma propriedade especifica do filme, no caso a resistividade iônica variável.
Para obter tal grandeza foi necessário calcular os valores do volume do filme por unidade
de carga. Esses valores foram encontrados através da medida da espessura dos filmes de
óxido de estanho crescidos até um determinado potencial final e para as velocidades de
varredura de 2 e 100 mV.s1
. Os valores do volume do filme por unidade de carga obtidos
a 2 mV.s1
em solução borato e fosfato decrescem significativamente até uma densidade
de carga igual a 5 mC.cm2
. Isso sugeriu que o filme de óxido é menos denso para valores
de densidade de carga menores e tornase mais denso à medida que a espessura do filme
aumenta. A altas velocidades de varredura foi visto que os filmes de óxido são menos
densos que os filmes crescidos a 2 mV.s1
, em ambas soluções. Os valores de
resistividade iônica dos filmes de óxido crescidos a 100 mV.s1
para ambas as soluções
foram menores que os obtidos para 2 mV.s1
. Isso é consequência da maior taxa de injeção
de defeitos e o menor tempo para recombinação dos mesmos. Também foi visto que os
filmes crescidos em solução borato possuem um valor de resistividade iônica maior que
os filmes crescidos em solução fosfato, para os mesmos valores de densidade de carga e
velocidades de varredura. Esse resultado mostra que provavelmente exista a incorporação
dos ânions no filme durante seu crescimento. Por fim verificouse a topografia dos filmes
de óxido de estanho crescidos em solução fosfato a 2 mV.s1
. Observouse que os filmes
crescidos com baixas densidades de carga (0,39 mC.cm2
) já eram contínuos, condição
necessária à aplicação do modelo ôhmico aos dados voltamétricos. Além disso, verificouse que a diminuição do volume do filme por unidade de carga é acompanhada por um
aumento na rugosidade. Por fim, os resultados do presente trabalho mostraram que os
filmes de óxido de estanho crescidos voltametricamente em solução fosfato e borato
podem ser promissores para passivação estável do estanho em substituição ao processo
de cromatização.
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Document type
TeseSource
COSTA, Tiago Brandão. Estudo do crescimento voltamétrico de óxidos de estanho em solução tampão borato e fosfato, pH 8,7. 2017. 140 f. Tese (Doutorado) - Curso de Engenharia Metalúrgica, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Metalúrgica, Universidade Federal Fluminense, Volta Redonda, 2017.Subject(s)
EstanhoEspessura
Modelo ôhmico
Voltametria
Óxido de estanho
Borato
Fosfato
Engenharia Metalúrgica
Produção intelectual
Tin
Thickness
Ohmic model
Voltammetry