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Title: Padrões de Speckles produzidos por vórtices óticos e sua aplicação na medida de rugosidade
Authors: Passos, Marcello Henrique Marques
metadata.dc.contributor.advisor: Huguenin, José Augusto Oliveira
metadata.dc.contributor.members: Carvalho, Isabel Cristina dos Santos
Fellows, Carlos Eduardo
Issue Date: 2016
Abstract: Neste trabalho fazemos uma análise dos padrões de Speckle produzidos pela iluminação diferentes superfícies rugosas com um vórtice óptico, de primeira ordem (l = ±1), feixe Laguerre-Gauss. Os padrões de Speckle gerados foram observados na direção normal explorando quatro planos diferentes: o plano de difração, plano imagem, plano focal, e o plano Transformada de Fourier exata. Os padrões de Speckle foram analisados por meio de imagens digitais utilizando o expoente de Hurst, uma ferramenta interessante utilizada para estudar a rugosidade de superfícies. Nós mostramos uma prova de princípio de que o expoente de Hurst dos padrões de Speckle é mais sensível no que diz respeito à rugosidade da superfície, quando os padrões de Speckle produzidos por um vórtice ótico é observado no plano focal. Este resultado abre campos de investigação na metrologia do Speckle uma vez que temos várias técnicas que utilizam os padrões de Speckle para diferentes aplicações em metrologia.
metadata.dc.description.abstractother: In this work we make an the analysis of speckle patterns produced by illuminating different rough surfaces with an optical vortex, the first order (l = ±1), Laguerre-Gaussian beam. The generated speckle patterns were observed in the normal direction exploring four different planes:the Diffraction plane, Image plane, Focal plane, and exact Fourier Transform plane. The digital speckle patterns were analysed by using the Hurst exponent of digital images, an interesting tool used to study surface roughness. We show a proof of principle that the Hurst exponent of digital speckle pattern is more sensitive with respect to the surface roughness when the speckle pattern is produced by an optical vortex and observed at Focal plane. This result opens news fields of investigation on the speckle metrology once we have several techniques that use speckle patterns for different metrology applications.
URI: https://app.uff.br/riuff/handle/1/6162
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